电子微电子测试探针

PCB（COF）测试探针:日本理化RIKA探针系列︱日本电针探针系列︱日本TAISEI探针系列︱日本SANKEI探针系列︱日本SEIKEN探针系列︱日本ORGAN探针系列∣日本东洋TOYO测试探针

SMT、ICT测试探针:美国IDI探针系列︱美国QA探针系列︱美国ECT探针系列︱德国FM探针系列︱德国英刚INGUN探针系列︱德国PTR探针系列︱日本电针探针系列︱日本ORGAN探针系列

Semiconductor测试探针:韩国LEENO测试探针系列︱美国IDI测试探针系列︱美国QA测试探针系列︱美国ECT探针系列︱德国FM探针系列︱日本电针探针系列︱日本SEIKEN探针系列

电子微电子测试探针检查项目

1、电气性能检查:电阻测试。  2、机械/机构性能检查：寿命测试，弹力测试，机械冲击测试，振动测试。  3、环境测试性能检查：湿度环境测试，盐雾测试，热静置测试，冷热冲击测试  4、其它检查：跌落测试，焊锡强度测试，侧向力测试。

高端芯片探针卡探针

产品描述：日本进口合金探针（铼钨探针），主要使用于LED芯片或半导体芯片测试机台上，Tip与LED PAD接触以提供电流流，LED点亮测试其电性。

超高精度研磨探针与腐蚀探针比较（如下图）：超高精度研磨探针的针尖可以精确控制，而腐蚀针不可以精确控制。◇尺寸￠0.1×61mm◇针尖长度1.4mm◇针尖直径：0.005mm◇材料：钨（W）以上探针需要定制。

日本电针Nihon denshin测试探针

◆C系列三点组合外弹簧探针◆开关探针◆极性针◆大电流探针

∣ND系列（ND50、ND75、ND100）∣C-0.26系列∣C-0.31系列∣C-0.38系列∣C-5系列∣C-10系列∣C-10系列∣C-2系列∣C-N系列∣C-1系列∣C-15系列∣C-17系列∣C-20系列∣C-22系列∣CT旋转系列（CT-04、CT-0.72、CT-1.0、CT-1.37）∣C-LH系列∣大电流探针（HCR、CP、NCP、CPM系列）∣极性探针∣开关探针（SW系列、S-30系列SW-2A、SW-3A、SW-3B）∣双头探针系列ND2026-XM0320-01、ND2030-XM0315-01、ND2051-XM0570-01、ND2057-XM0570-01、ND2057-XM0360-01、ND2064-XM0594-01、ND3076XM0558-01、ND3076-XM1146-01、ND2080-XM0430-01、ND1030-MM0360-01、ND1040-XM0370-01∣

日本理化Rika测试探针

∣RKN-026∣RKN-026-R∣RKN-026CE（0.08）∣S700F-3-STD-W∣S700F-1-STD-W∣RKN-03∣RKN-03R∣RKN-03-20g∣RKN-03CE∣RKN-04∣RKN-04R∣RKN-04CE∣RKN-05∣RKN-05R∣RKN-05CE∣RKN-06∣RKN-06R∣RKN-06CE∣TPW-Q02-A-71∣TPW-P02-A-71∣

日本TAISEI测试探针

∣TW014-NB/NB-00∣TW020-NB/NB-00∣TP026-NHY01-00∣TP026-NBY01-00∣TP026-4WY01-00∣RT026-RB00∣TP031-NHY03-00∣RT031-RY00∣TP040NHY04-00∣RT040-BD00∣TP050-NHY04-00∣RT050-BR00∣TP068-NHY05-00∣RT068-BA00∣TW026-NB/NB-02∣TW026-4T/NB-00∣TW026-4T/4T-00∣TW030-NB/NB-00∣TW030-RB/NB-00∣TW048-NB/NB-00∣TW048-NB/NB-01∣TW048-NB/NB-05∣TW068-NB/NB-00∣TW068-NB/NB-01∣TW038-NB/NB-50∣

日本东洋TOYO测试探针

∣B01-NP254W∣B02-NP080*090W∣B03-NP060*070W∣B04-NP040*050W∣B22-NP015W∣B05-NP050W∣B06-NP050W∣B07-NP050W∣B08-NP040W∣B09-NP033W∣B10-NP025W∣B11-NP045W∣B12-NP040W∣B13-NP254W∣B14-NP030W∣B16-NP055W∣B17-NP068W∣B18-NP050W∣B19-NP040W∣B20-NP030W∣D01-NP050W∣D02-NP040W∣D03-NP160W∣A07-FP050W∣A06-FP040W∣F01-NP040W∣E08-NP040S∣B22-NP015W∣B26-NP040W∣B31-NP050W∣X903-NP050W∣E05-NP040S∣G01-NP178W∣D02-NP040W∣D03-NP135W∣

日本精研Seiken测试探针

∣SW-2∣SW-2S∣SW-5S∣SW-5C∣SWR-UG∣SWR-LP∣SG-2∣SG-4∣SG-5N∣SG-5S∣SGR-UG∣∣SGR-LP∣SGR-LPL∣SY-20∣SY-20S∣SY-20R∣SY-40∣SY-50S∣SY-01∣SY-02∣SY-02U∣∣SY-04S∣SV-2∣SV-2S∣SV-2U∣SV-3S∣SV-3D∣SV-4S∣SV-4D∣SV-5∣SV-5S∣SV-5D∣∣SV-5C∣SV-5W∣SV-6∣SV-8Y∣SV-8K∣SVR-ST∣SVR-UG∣SVR-LP∣SVR-LPL∣SVR-ST HR∣SE-1∣SE-1M∣SE-2ND∣SE-2C1∣SE-2∣SL-2∣SL-3S∣SL-4S∣SL-5∣SL-8∣SA-1∣SA-2∣SA-4∣SA-5∣SAR-ST∣SH-1∣SH-2∣SH-5Y∣SHR-F∣SO-1∣SO-2∣SO-3S∣SO-5∣SOR-F∣SN-1∣SN-2∣SN-5Y∣SNR-F∣SF-1∣SF-5∣SF-50∣SF-100∣SD-200∣SD-500∣SJ-1∣SJ-5Y∣SB-1∣SB-5∣SQ-1∣SQ-3∣SQ-22RT∣SCR-1UG∣

美国IDI测试探针

∣101111-008∣101377-000∣100671-000∣101377-001∣101190-002∣101050-003∣100891-002∣100045-042∣100045-044∣100165-010∣100165-021∣100737-001∣100803-000∣100410-005∣101066-000∣101367-001∣101367-000∣101377-002∣101009-005∣100606-000∣100804-000∣101119-000∣101119-001∣101197-000∣100835-000∣101422-000∣100996-000∣100381-000∣101180-000∣101170-000∣101110-000∣101328-000∣101262-000∣100941-000∣101076-000∣100935-000∣101418-000∣100995-000∣101402-000∣101361-000∣101208-000∣101270-000∣101392-000∣101283-000∣101030-000∣101075-000∣101042-000∣101064-001∣101340-000∣101420-000∣100710-000∣101247-001∣101092-001∣100410∣100606∣100671∣100803∣100804∣100891∣101050∣101111∣CG-2.5-4-SC∣CG-2.5-4-SM∣CG-2.5-4-TH∣CG-2.5-6-SC∣CG-2.5-6-S∣CG-2.5-6-T∣CP-2.5-4-SC∣CP-2.5-4-SM∣CP-2.5-4-TH∣PI-5327∣PI-5328∣PI-5329∣PI-5330∣100895∣SK 3∣SK-5∣100445 / 100746∣100526∣100999∣101097∣SW-3∣SW-4∣SW-5∣SH 100∣SH 3∣SH 4∣SH 5∣SHE 100∣SHE 3∣SHE 4∣SHE 5∣100785∣100938∣DE 100∣DE 50∣